English
Kontakt
ul. Słowackiego 8
sklep@katemedia.pl
+48 570 025 000
Brak produktów w koszyku
Zestaw adapterów do testowania gniazda karty SIM JCID do V1SE/V1S PRO
Zestaw adapterów do testowania gniazda karty SIM JCID do V1SE/V1S PRO
JCID – Zestaw do testowania gniazd SIM/TF (iPhone 5–16PM + Android)
JCID SIM/TF Testing Set to profesjonalny zestaw serwisowy, stworzony do szybkiej i precyzyjnej diagnostyki gniazd SIM oraz TF (microSD). Dzięki obsłudze one-key quick detection umożliwia błyskawiczne wykrywanie usterek bez potrzeby rozbierania telefonu.
Zestaw współpracuje z JCID V1S Pro / V1SE, obsługuje iPhone 5–16PM (single i dual SIM, także seria 15 i 16 z ultracienkim slotem) oraz urządzenia Android z gniazdami SIM i TF. Technologia ENIG gwarantuje trwałość, a inteligentne zabezpieczenia chronią przed uszkodzeniami podczas testów.
To niezastąpione narzędzie dla serwisów GSM i elektroniki, które cenią szybkość, bezpieczeństwo i szeroką kompatybilność.
189,99 zł
Brutto
Dostępność produktu
Produkt dostępny
Opcje dostawy
Dowiedz się więcej
JCID – Zestaw do testowania gniazd SIM/TF (iPhone 5–16PM + Android)
Profesjonalny zestaw serwisowy do błyskawicznego testowania gniazd SIM i TF (microSD) bez rozbierania telefonu. Współpracuje z JCID V1S Pro / V1SE, obsługuje iOS single/dual SIM, a także Android SIM + TF. Idealny do weryfikacji po modyfikacjach i naprawach – jedno kliknięcie, czytelny wynik, pełna kontrola.
Szybkie wykrywanie jednym przyciskiem – plug & play, bez zbędnych kroków (V1SE/V1S Pro).
Zestaw JCID został zaprojektowany do ekspresowej diagnostyki złącz SIM/TF w urządzeniach Apple i Android. Graficzny interfejs urządzeń V1S Pro / V1SE prezentuje wyniki w sposób czytelny i odpowiadający faktycznym kontaktom w gnieździe, co minimalizuje ryzyko błędnej interpretacji i przyspiesza pracę serwisu.
Najważniejsze zalety
-
One-key quick detection
Test jednym przyciskiem, bez demontażu urządzenia – plug & play.
-
Precyzyjne pozycjonowanie sond
Wyniki na ekranie odpowiadają rozkładowi styków w gnieździe – szybko, wydajnie i intuicyjnie.
-
Dwa tryby pracy
Test bez demontażu (pomiar wartości diody) oraz test przy uruchamianiu (sprawdzanie funkcji SIM).
-
Szeroka kompatybilność
iPhone 5–16PM (w tym serie 11/12/13/14/15/16, 16/16Plus, 16 Pro/Max) oraz Android (SIM + TF/microSD).
-
Bezpieczeństwo i trwałość
Płytki w technologii ENIG (Electroless Nickel / Immersion Gold) – wysoka odporność na zużycie i zginanie; ochrona interfejsu FPC, brak ryzyka „spalenia” przy odwrotnym włożeniu karty.
-
Czytelne wskazania LED
LED świeci – odczyt OK; LED miga – trwa odczyt; LED zgaszona – błąd lub brak karty. Obsługa 5G.
Precyzyjne pozycjonowanie sond i zgodność z rozkładem styków w gnieździe karty.
Tryby pracy i sposób użycia
Tryb bez demontażu – wyłącz telefon, podepnij adapter do V1S Pro / V1SE i zmierz wartość diody bez otwierania urządzenia.
Tryb przy uruchamianiu – w trakcie startu systemu sprawdzisz funkcje single/dual SIM (w Androidzie także gniazda TF/rozszerzenia kart).
Test bez demontażu (pomiar diody) oraz test przy uruchamianiu (weryfikacja funkcji SIM).
Szeroka kompatybilność
Zestaw zawiera dedykowane adaptery: iOS Single SIM, iOS Dual SIM oraz 16/16 Plus. Obsługiwane m.in.: iPhone 5–8P, X/XS, XR/XS Max, serie 11/12/13/14/15, 16/16 Plus, 16 Pro/16 Pro Max, a także urządzenia Android (SIM + TF).
Dedykowane adaptery do iOS Single/Dual SIM oraz iPhone 16/16 Plus.
Zawartość zestawu
- SIM Card Holder Testing Adaptor V1.0
- iOS Dual SIM Card Connection Adaptor
- iOS Single SIM Card Connection Adaptor
- 16/16Plus SIM Card Connection Adaptor
- SIM Card Holder – TF Card Holder FPC V1.0
- SIM Card Holder Connection FPC V1.0
Specyfikacja
| Nazwa | JCID – Zestaw do testowania gniazd SIM/TF |
| Zastosowanie | iPhone 5–16PM + Android (obsługa wykrywania slotów SIM + TF po aktualizacji) |
| Kompatybilność iOS | Single SIM, Dual SIM; w tym serie 11/12/13/14/15/16, 16/16Plus, 16 Pro/Max |
| Kompatybilność Android | SIM + TF (microSD); w tym 3-slotowe układy (Long/Short) |
| Materiały/Technologia | Płytki ENIG (Electroless Nickel / Immersion Gold) – wysoka trwałość i odporność na zginanie |
| Dodatkowe funkcje | Wskaźniki LED stanu; skanowanie pozycji sond; zabezpieczenie interfejsu FPC; obsługa 5G |
| Wymagane urządzenie | JCID V1S Pro / V1SE |
| Informacja o aktualizacji | V1S Pro – funkcja dostępna od wersji V2.15 (07.11.2024); V1SE – planowane wdrożenie przed 15.12.2024 |
| Marka | JCID |
Wskazówki:
- LED świeci ciągle – odczyt OK; miga – trwa odczyt; nie świeci – błąd lub brak karty.
- Po modyfikacji gniazda w serii iPhone 15, zestaw zapewnia stabilną weryfikację poprawności.
JCIZADTKS0
7
Przedmioty
Brak recenzji.
You need to be logged in or create an account to give your appreciation of a review.